X線撮像偏光測定のために開発したDLC蒸着による湾曲Si反射体

文献

J-GLOBAL ID：201302225487014466 整理番号：13A0656960

Bent Si Reflector with DLC Deposition Developed for X-Ray Imaging Polarimetry

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資料名：
巻： 1427 ページ： 235-236 発行年： 2012年
JST資料番号： D0071C ISSN： 0094-243X 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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