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J-GLOBAL ID：201302227531258389   整理番号：13A1109415

S4-XRFにおけるHV制御回路の故障解析

Malfunction Analysis of HV Controlling Circuit in S4-XRF

著者 (4件)： Qi Lianzhu (China Acad. of Engineering Physics, Mianyang) ,  Wu Lunqiang (China Acad. of Engineering Physics, Mianyang) ,  Zhao Zhonggang (China Acad. of Engineering Physics, Mianyang) ,  Yang Mingtai (China Acad. of Engineering Physics, Mianyang)
資料名： Hedianzixue yu Tance Jishu  (Hedianzixue yu Tance Jishu)
巻： 32  号： 6  ページ： 664-667  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2038A  ISSN： 0258-0934  CODEN： HDYUEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： S4-XRF動作原理およびX線HV制御原理を導入した。HV故障を誘発する可能性があるHV制御回路に及ぼす様々な因子を分析した。修理方法を,各々の起こりうる原因に合わせて提案した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *故障解析 ,  *制御回路 ,  蛍光X線分析 ,  原理
準シソーラス用語： XRF ,  動作原理

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q)

タイトルに関連する用語 (2件)： XRF ,  故障解析