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J-GLOBAL ID：201302228307835431   整理番号：13A0823210

チップ診断および特性化における解析ツール能力をエンハンスするための先進方法およびソフトウエア

Advanced Methods and Software for Enhancing Analytical Tools Capabilities during Chip Diagnostic and Characterization

著者 (2件)： STELLARI Franco (IBM T.J. Watson Res. Center, NY) ,  SONG Peilin (IBM T.J. Watson Res. Center, NY)
資料名： Conference Proceedings from the International Symposium for Testing and Failure Analysis  (Conference Proceedings from the International Symposium for Testing and Failure Analysis)
巻： 38th  ページ： 273-280  発行年： 2012年 
JST資料番号： D0658B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *半導体チップ ,  *キャラクタリゼーション ,  能力 ,  ソフトウェア ,  *異常診断
準シソーラス用語： チップ【IC】 ,  解析ツール

分類 (2件)： 混成集積回路  (NC03163K) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 診断 ,  特性化 ,  解析ツール ,  能力 ,  エンハンス ,  ソフトウエア