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J-GLOBAL ID：201302235959691187   整理番号：13A0289759

透過率測定からの誘電体薄膜の屈折率および厚さの決定

ON THE DETERMINATION OF REFRACTIVE INDEX AND THICKNESS OF THIN DIELECTRIC FILMS FROM MEASUREMENT OF TRANSMITTANCE

著者 (4件)： SHAH Z. H. (Univ. Management and Technol., Lahore, PAK) ,  AHMAD I. (Univ. Management and Technol., Lahore, PAK) ,  TAHIR Q. A. (Univ. Management and Technol., Lahore, PAK) ,  KHAWAJA E. E. (Univ. Management and Technol., Lahore, PAK)
資料名： Surface Review and Letters  (Surface Review and Letters)
巻： 19  号： 6  ページ： 1250059.1-1250059.5  発行年： 2012年12月 
JST資料番号： W1109A  ISSN： 0218-625X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： シンガポール (SGP)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： 透過率 ,  誘電体薄膜 ,  屈折率 ,  厚さ