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J-GLOBAL ID：201302237738058393   整理番号：13A1932641

高分子の粗さイメージのスペクトル解析によるナノスケール接触半径の決定

Nanoscale Contact-Radius Determination by Spectral Analysis of Polymer Roughness Images

著者 (1件)： KNOLL Armin W. (IBM Res. - Zurich, Rueschlikon, CHE)
資料名： Langmuir  (Langmuir)
巻： 29  号： 45  ページ： 13958-13966  発行年： 2013年11月12日 
JST資料番号： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 接触モードにおけるナノスケールのAFMチップによる柔らかいガラス状高分子の表面粗さのイメージングによって,チップの接触半径を決定することが可能なことを示した。イメージングチップによる粗さ振幅の減衰は低い空間周波数ではAiryパターン挙動で,また高い空間周波数ではべき乗則挙動で表される。これら2つの挙動の間の転移は表面粗さによる接触面積の局所変動による。チップの侵入深さが表面粗さのRMS値より大きい場合には,接触面積の信頼できる値が得られる。接触面積を荷重および移動距離の関数としてとらえた2つの実験で以上の結果の正当性を確認した。得られた接触面積は,別途測定した接触面積およびJKR接触理論とよく適合した。

シソーラス用語： パワースペクトル密度 ,  *高分子 ,  *表面粗さ ,  画像処理 ,  *面積 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *チップ ,  *空間周波数
準シソーラス用語： イメージング ,  *接触面積

分類 (2件)： 固-固界面  (CB12060M) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高分子 ,  イメージ ,  スペクトル解析 ,  ナノスケール ,  半径