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J-GLOBAL ID：201302238277107474   整理番号：13A0349461

ピーク電力最適化試験における動的電圧降下検出に対する28nm HKMG GHzディジタルセンサ

28-nm HKMG GHz Digital Sensor for Detecting Dynamic Voltage Drops in Testing for Peak Power Optimization

著者 (5件)： IGARASHI Mitsuhiko (Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN) ,  TAKEUCHI Kan (Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN) ,  TAKAZAWA Yoshio (Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN) ,  IGARASHI Yasuto (Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN) ,  MATSUSHITA Hiroaki (Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
資料名： Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference  (Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference)
巻： 2012  ページ： 214-217  発行年： 2012年 
JST資料番号： H0843A  ISSN： 0886-5930  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 最適化 ,  試験 ,  *電圧降下 ,  *電子回路 ,  ディジタル回路 ,  センサ ,  論理回路 ,  動的応答
準シソーラス用語： ピーク電力 ,  金属ゲート ,  *検出回路 ,  高k誘電体 ,  電子回路設計

分類 (1件)： その他の電子回路  (NC05090X)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電力最適化 ,  試験 ,  電圧降下 ,  GHz ,  ディジタル