VAP J C について
Air Force Inst. of Technol., OH, USA について
NAUYOKS S E について
Air Force Inst. of Technol., OH, USA について
MARCINIAK M A について
Air Force Inst. of Technol., OH, USA について
Measurement Science and Technology について
Mueller行列 について
散乱計 について
偏光計 について
遅延特性 について
誤差 について
最適化 について
ランダム誤差 について
リターダ【光学】 について
偏光測定と偏光計 について
可同調性 について
赤外 について
Mueller行列 について
散乱計 について
応用 について
リターダ について
偏光計 について
最適化 について