イオン飛跡のナノスケール特徴描写:MCシミュレーションと分析的アプローチの比較

BUG M. U.; BUG M. U.; SURDUTOVICH E.; SURDUTOVICH E.; RABUS H.; ROSENFELD A. B.; SOLOV’YOV A. V.

文献

J-GLOBAL ID：201302241655714806 整理番号：13A0225922

イオン飛跡のナノスケール特徴描写:MCシミュレーションと分析的アプローチの比較

Nanoscale characterization of ion tracks: MC simulations versus analytical approach

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BUG M. U.

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資料名：

European Physical Journal. D. Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics (European Physical Journal. D. Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics)

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巻： 66 号： 11 ページ： 1-6 発行年： 2012年11月
JST資料番号： W0117B ISSN： 1434-6060 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：ドイツ (DEU) 言語：英語 (EN)

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