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J-GLOBAL ID：201302242501486416   整理番号：13A1691568

姫路城における風化日本瓦上炭素膜のSEM-EDXによる厚み測定

Thickness measurements by SEM-EDX of carbon films on the weathered Japanese roof tiles in Himeji Castle

著者 (2件)： MURAKAMI R. (Univ. Hyogo) ,  MURAMATSU Y. (Univ. Hyogo)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 49th  ページ： 151  発行年： 2013年09月23日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 城 ,  *瓦 ,  *炭素 ,  *薄膜 ,  *厚み測定 ,  エネルギー分散X線分光分析
準シソーラス用語： SEM-EDX ,  *炭素膜

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 姫路城 ,  風化 ,  日本 ,  瓦 ,  炭素膜 ,  SEM-EDX ,  厚み測定