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J-GLOBAL ID：201302242657484480   整理番号：13A1021369

電子直接検出カメラ(direct electron detector)のTEMへの応用

著者 (2件)： 宮崎直幸 (自然科学研究機構 生理学研) ,  村田和義 (自然科学研究機構 生理学研)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 48  号： 1  ページ： 57-60  発行年： 2013年04月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： CMOSイメージセンサを用いた,電子直接検出カメラ(direct electron detector:DED)が開発された。CMOSイメージセンサは,検出器と増幅器がオンチップ上で構成された撮像素子である。DEDは,CCDに比べて高い解像度と感度を持ち,次世代の透過電子顕微鏡用の撮像媒体として注目されている。また連続高速撮影が可能なため,試料経時観察やドリフト補正などにも利用される。本稿ではDEDの仕組みと性能,そしてこれを利用した最近の応用研究を紹介した。

シソーラス用語： *イメージセンサ ,  CMOS構造 ,  カメラ ,  電子 ,  検出 ,  分解能 ,  感度 ,  *透過型電子顕微鏡
準シソーラス用語： 解像度 ,  透過電子顕微鏡

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (11件)：

• ROBERTS, P. Ultramicroscopy. 1982, 8, 385-396
• BAMMES, B. E. J. Struct. Biol. 2012, 177, 589-601
• JIN, L. J. Struct. Biol. 2008, 161, 352-358
• MILAZZO, A.-C. Ultramicroscopy. 2010, 110, 741-744
• MILAZZO, A.-C. J. Struct. Biol. 2011, 176, 404-408

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子 ,  TEM ,  応用