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J-GLOBAL ID：201302243152935980   整理番号：13A0060682

実世界におけるバウンダリスキャンテスト

BOUNDARY-SCAN TESTING IN THE REAL WORLD

著者 (1件)： STANBRIDGE James (JTAG TECHNOL.)
資料名： Electronics World  (Electronics World)
巻： 118  号： 1920  ページ： 26-28  発行年： 2012年12月 
JST資料番号： E0395A  ISSN： 1365-4675  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バウンダリスキャンテスト(BST)に関する公開資料のほとんどは理論的であった。ここでは広く使用されるPCB試験法の基礎と応用事例の概要を述べた。専門家グループJTAGが開発したBSTアーキテクチャの初期目的は,表面実装技術のコンポーネントを用いたPCBの構築とテスト関連の問題解決であった。そのツールではCADから基本設計情報を取込み,短絡と開路検出の構造テストと単純な論理テストを行った。英国の電気試験会社Meggerは,この試験の初期利用から改良を続けてきたが,現在では試験のほぼ全過程を網羅している。BSTの最新の開発状況と将来展望を述べた。

シソーラス用語： *バウンダリスキャン ,  *プリント基板 ,  製造試験 ,  *国際規格 ,  表面実装 ,  CAD【計算機】 ,  回路試験 ,  電子部品 ,  ICパッケージ ,  デバッギング ,  BIST
準シソーラス用語： BGA ,  *JTAG ,  SMD【電子部品】 ,  論理テスト

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  プリント回路  (NA05040O)

タイトルに関連する用語 (2件)： 世界 ,  バウンダリスキャンテスト