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J-GLOBAL ID:201302243256483640   整理番号:13A1250419

二酸化ケイ素表面上での自己集合単一層の改質とマイクロ-工学技術の研究進展

Research Progress of the Modification and Micro-engineering of Selfassembled Monolayers on Silicon Dioxide Surface
著者 (5件):
資料名:
巻: 26  号: 6A  ページ: 22-30  発行年: 2012年 
JST資料番号: C2126A  ISSN: 1005-023X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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自己集合単分子層(SAM)は界面で共有結合的に集合した二次元膜(1分子厚さ)として定義された。SAMの主な利点は有機官能性分子と固体基質の間の共有結合的集合からもたらされるそれらの安定性であった。二酸化ケイ素表面上でのSAMの研究状況について総括して,二酸化ケイ素表面上でのSAMの改質とマイクロ工学技術について概説して,これらの技術の原理と応用について解説した。最後に,本分野における将来の難問についても提示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST
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分類 (1件):
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無機化合物一般及び元素 

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