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J-GLOBAL ID：201302244411857051   整理番号：13A0758400

集積されたMach-Zehnder型干渉計を用いた超短フラットトップパルスの発生

Ultrashort Flat-Top Pulse Generation Using an Integrated Mach-Zehnder Interferometers

著者 (7件)： LI Ming (Inst. National de la Rech. Scientifique (INRS), QC, CAN) ,  DUMAIS Patrick (Communication Res. Centre Canada, ON, CAN) ,  ASHRAFI Reza (Inst. National de la Rech. Scientifique (INRS), QC, CAN) ,  BAZARGANI Hamed Pishvai (Inst. National de la Rech. Scientifique (INRS), QC, CAN) ,  QUELENE Jean-Baptiste (Inst. National de la Rech. Scientifique (INRS), QC, CAN) ,  CALLENDER Claire (Communication Res. Centre Canada, ON, CAN) ,  AZANA Jose (Inst. National de la Rech. Scientifique (INRS), QC, CAN)
資料名： Annual Meeting of the IEEE Photonics Society  (Annual Meeting of the IEEE Photonics Society)
巻： 2012  ページ： 838-839  発行年： 2012年 
JST資料番号： T0931A  ISSN： 1092-8081  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ピコ秒およびサブピコ秒域の超短フラットトップパルスの発生が,非線形光スイッチング,周波数変換器,パルス歪みのプレ補償など様々な分野における応用という観点から注目されている。全光ファイバー装置は,挿入損失が小さく,頑丈で低価格であり,また互換性に優れているので,ファイバ光学を用いた線形パルス成形技術が,ファイバ型Bragg回折格子,長周期回折格子,全ファイバMach-Zehnder型干渉計などに採用されている。ここでは,超短Gauss型パルスを,シリカ-オン-シリコン上に集積されたMach-Zehnder型干渉計を用いて,フラットトップパルスに再形成した結果を示す。幅が7.8psのGauss型パルスは,二つの異なる線形フィルタリング方式に基づいて,殆どチャープの無い17.1psのパルスと20.0psのフラットトップパルスに形状を変化できることが分かった。また,パルス幅が数ピコ秒のHermite-Gauss型パルスを発生できるこの集積されたMZIの能力を実証する。

シソーラス用語： *光集積回路 ,  Mach-Zehnder干渉計 ,  ビーム ,  Gaussビーム ,  *波形成形 ,  チャープ ,  濾波器 ,  ピコ秒
準シソーラス用語： パルス成形 ,  フラットトップビーム ,  *光パルス整形 ,  線形フィルタ

分類 (2件)： 光デバイス一般  (BD06010L) ,  光通信方式・機器  (ND10000B)

タイトルに関連する用語 (2件)： 集積 ,  干渉計