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J-GLOBAL ID：201302244898655408   整理番号：13A0687277

周波数解析における高精度布欠陥検知用パラメータの取得

著者 (3件)： 中山泰紀 (富山県大 工) ,  松田弘成 (富山県大 工) ,  中田崇行 (富山県大 工)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2013  号： 情報・システム2  ページ： 178  発行年： 2013年03月05日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 周波数解析により布模様の周期性を取得することによる高精度布欠陥検知システムにおける「ブロック幅」のパラメータの自動取得法を提案した。実験により周波数解析による布模様の周期性の取得が可能なことを示した。また,検出されたサブピクセルブロック幅を欠陥検出アルゴリズムに適用し,検出性能が向上するか確認する。布模様によっては相関性の高い値が複数出力されるため値の取捨選択法を今後考案する必要がある。(著者抄録)

シソーラス用語： 周波数解析 ,  *布 ,  *故障検出 ,  パラメータ推定 ,  輝度 ,  *画像分析 ,  製品検査 ,  高精度 ,  周期性 ,  模様
準シソーラス用語： サブピクセル ,  欠陥検出

分類 (2件)： 織布  (YM05040J) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 周波数解析 ,  布 ,  欠陥検知 ,  パラメータ