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J-GLOBAL ID：201302248390802885   整理番号：13A1763789

CdSのサイクリックボルタンメトリとクロノアンペロメトリ堆積

Cyclic Voltammetric and Chronoamperometric Deposition of CdS

著者 (4件)： KIM Yongkuk (Dep. of Chemistry, Daejin Univ.) ,  JUNG Jaegoo (Dep. of Chemistry, Daejin Univ.) ,  KIM Seunghun (Dep. of Chemistry, Daejin Univ.) ,  CHAE Won-seok (Dep. of Chemistry, Daejin Univ.)
資料名： Materials Transactions  (Materials Transactions)
巻： 54  号： 8  ページ： 1467-1472 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： G0668A  ISSN： 1345-9678  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 水溶液中のサイクリックボルタンメトリ(CV)とクロノアンペロメトリ(CA)を用いて,電気化学的にITO上にCdSを堆積した。CdS薄膜を作製するために,CVに電位範囲-0.3~-1.2Vを適用し,CA(Ag|AgCl)に-1.1Vの定電位を適用した。XRD,AFMおよびSEMを用いて,堆積したCdS薄膜の特性評価を詳細に行った。UV/Vis透過度を用いて,膜のバンドギャップエネルギー(E_g)測定した。Mott-Schottkyプロットを用いて,ドーパント密度とフラットバンド電位(E_fb)を測定した。CV堆積によって得たCdS膜はCA堆積で得たものより粗くより希薄であることを観察した。このことは交代性の還元-酸化のせいであり,CdSの堆積-溶解に一致した。CVによって堆積したCdS膜のキャリア密度を測定したが,17%と多かった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *硫化カドミウム ,  サイクリックボルタンメトリー ,  クロノアンペロメトリー ,  堆積 ,  酸化インジウムスズ ,  薄膜 ,  エネルギー ,  図化 ,  ドーパント ,  電圧 ,  キャリア密度 ,  太陽電池 ,  電着
準シソーラス用語： Mott-Schottkyプロット ,  バンドギャップエネルギー ,  フラットバンド電圧

分類 (2件)： 硫黄とその化合物  (YB02020L) ,  太陽電池  (NC03084O)

引用文献 (37件)：

• SINGH, V. K. Electron. Mater. Lett. 2012, 8, 295
• MISHRA, S. K. Electron. Mater. Lett. 2011, 7, 31
• HONG, J. S. Bull. Korean Chem. Soc. 1999, 20, 597
• GHOSH, P. K. Mater. Lett. 2006, 60, 2881
• ZHANG, H. J. Cryst. Growth. 2004, 263, 372

タイトルに関連する用語 (4件)： CdS ,  サイクリックボルタンメトリ ,  クロノアンペロメトリ ,  堆積