文献

J-GLOBAL ID：201302250695120215   整理番号：13A1193550

シングルイベント効果研究のためのパルスレーザ試験

Pulsed-Laser Testing for Single-Event Effects Investigations

著者 (4件)： BUCHNER Stephen P. (Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA) ,  MILLER Florent (EADS, Suresnes, FRA) ,  POUGET Vincent (Univ. Bordeaux, Bordeaux, FRA) ,  MCMORROW Dale P. (Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 60  号： 3,Pt.2  ページ： 1852-1875  発行年： 2013年06月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 重イオンや陽子などの電離放射線が集積回路の敏感なノードの近傍を通過するとシングルイベント効果(SEE)が生じる。集積回路や素子におけるSEEを研究するためにパルスレーザの利用を検討した。パルスレーザを用いることで,広いイオン源では得られないSEEに関する空間/時間情報が得られる。線形及び非線形過程による光の伝搬と吸収を含め,関与する機構を詳しく述べた。本レビューは,多数の事例を用いて,SEE研究における本方法の汎用性と有用性を強調した。

シソーラス用語： *SEU【シングルイベント】 ,  ソフトエラー ,  ラッチアップ ,  機能障害 ,  *故障 ,  *半導体集積回路 ,  パルスレーザ照射 ,  重イオン ,  パルスレーザ ,  テスト構造
準シソーラス用語： *SEE【事象】 ,  *シングルイベント効果 ,  *回路故障 ,  試験回路

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (4件)： シングルイベント効果 ,  研究 ,  パルスレーザ ,  試験