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J-GLOBAL ID：201302251247296201   整理番号：13A1324364

TEMにおいて焦点位相コントラストを作るために用いる開口部の静電帯電を最小化すること

Minimizing electrostatic charging of an aperture used to produce in-focus phase contrast in the TEM

著者 (13件)： GLAESER Robert M. (Univ. California, CA, USA) ,  CSENCSITS Roseann (Univ. California, CA, USA) ,  DOWNING Kenneth H. (Univ. California, CA, USA) ,  LARSON David M. (Univ. California, CA, USA) ,  TYPKE Dieter (Univ. California, CA, USA) ,  HAN B.G. (Univ. California, CA, USA) ,  SASSOLINI Simone (Univ. California, CA, USA) ,  CAMBIE Rossana (Univ. California, CA, USA) ,  JIN Jian (Univ. California, CA, USA) ,  CABRINI Stefano (Univ. California, CA, USA) ,  SCHMID Andreas K. (Univ. California, CA, USA) ,  DANEV Radostin (Max-Planck-Inst. for Biochemistry, Martinsried, DEU) ,  BUIJSSE Bart (FEI Co., Eindhoven, NLD)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 135  ページ： 6-15  発行年： 2013年12月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： TEM ,  焦点位相 ,  コントラスト ,  静電帯電 ,  最小化