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J-GLOBAL ID:201302251866062681   整理番号:13A1894912

プローブ深さを変えた軟X線吸収分光研究:電極表面へ電解質添加の影響

Soft X-ray absorption spectroscopic studies with different probing depths: Effect of an electrolyte additive on electrode surfaces
著者 (9件):
資料名:
巻: 248  ページ: 994-999  発行年: 2014年02月15日 
JST資料番号: B0703B  ISSN: 0378-7753  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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モデルのLiCoO2電極上に生成した固体電解質界面(SEI)を超ソフトX線吸収分光(XAS)により分析した。電極上のSEI膜でLi K-,B K-,C K-,O K-,Co L-端の分光のデータを異なる検出深さで三種の検出法により集めた。電極はパルスレーザー析出により作製した。すべての分光データは炭酸リチウムを含むSEI膜が電極を電解質溶液に浸漬すると瞬時に生成し,また,それは充電-放電反応の繰返しの間に分解することを示した。SEI膜の分解はリチウムイオン電池のサイクル特性の劣化を招くように思われた。電解液にリチウムビス(シュウ酸塩)ホウ酸塩(LiBOB)の添加により,分解は抑制されて,長いサイクル寿命にすることができた。電極表面の若干のCoイオンは充電-放電反応の間にCo(II)に還元され,この反応もまたLiBOBの添加により抑制できることを見出した。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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