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J-GLOBAL ID：201302252651273360   整理番号：12A1811752

環境乱れを受ける変形測定での最適な画像抽出による電子スペックルパターン干渉測定

Electronic Speckle Pattern Interferometry with Optimum Image Extraction for Deformation Measurement under Environmental Disturbance

著者 (3件)： ARIKAWA Shuichi (Dep. of Mechanical Engineering, Aoyama Gakuin Univ.) ,  NAKAYA Yusuke (Dep. of Mechanical Engineering, Aoyama Gakuin Univ.) ,  YONEYAMA Satoru (Dep. of Mechanical Engineering, Aoyama Gakuin Univ.)
資料名： Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering (Web)  (Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering (Web))
巻： 6  号： 6  ページ： 634-644 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： U0026A  ISSN： 1880-9871  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 環境乱れの中でのESPI測定のために大量のスペックル画像から最適の画像を抽出する方法を提案した。環境乱れの中で静的な変形を測定する際に,干渉縞を作れる最適な画像を画像サブトラクション前にスペックル画像から抽出する。時系列値との対比で最高のコントラストの評価に基づいて抽出を行う。床から乱れが来る環境乱れの中でこの方法の妥当性を調べた。その結果,この抽出法は効果的であり,環境乱れを受けるESPIによる静的表面変形を制振装置なしで測定できることが示された。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 乱れ ,  変形 ,  *抽出 ,  *スペックル干渉法 ,  干渉縞 ,  *画像処理 ,  コントラスト ,  装置
準シソーラス用語： 画像抽出 ,  電子スペックルパターン干渉法 ,  サブトラクション法 ,  制振装置

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

引用文献 (15件)：

• (1) Chiang, F. P., Speckle Metrology, ASM handbook Volume 17, Nondestructive Evaluation and Quality Control (1989), p.432, ASM International.
• (2) Sirohi, R. S., Speckle Interferometry, Contemporary Physics, Vol. 43, No. 3, (2002), pp. 161-180.
• (3) Vial-Edwards, C., Lira, I., Martinez, A. and Münzenmayer, M, Electronic Speckle Pattern Interferometry Analysis of Tensile Test of Semihard Copper Sheets, Experimental Mechanics, Vol. 41, No. 1, (2001), pp. 58-62.
• (4) Hinsch, K. D., Gülker, G. and Kelmers, H., Checkup for Aging Artwork - Optical Tools to Monitor Mechanical Behavior, Optics And Lasers in Engineering, Vol. 45, (2007), pp. 578-588.
• (5) Arikawa, S. and Yoneyama, S., A Simple Method for Detecting a Plastic Deformation Region Formed by Local Loading Using Electronic Speckle Pattern Interferometry (in Japanese), Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers, Series A, Vol. 77, No. 775, (2011), pp. 383-390.

タイトルに関連する用語 (6件)： 環境 ,  乱れ ,  画像抽出 ,  電子 ,  スペックルパターン ,  干渉測定