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J-GLOBAL ID：201302252925082159   整理番号：13A1227614

その場SEM圧縮試験過程でナノ結晶性Pd-Au合金のせん断帯形成を観察

Observation of shear band formation in nanocrystalline Pd-Au alloy during in situ SEM compression testing

著者 (9件)： IVANISENKO Yulia (Inst. for Nanotechnology, Karlsruhe Inst. for Technol. (KIT), 76021, Karlsruhe, DEU) ,  WERZ Thomas (Inst. of Micro and Nanomaterials, Ulm Univ., 89081, Ulm, DEU) ,  MINKOW Alexander (Inst. of Micro and Nanomaterials, Ulm Univ., 89081, Ulm, DEU) ,  LOHMILLER Jochen (Inst. for Applied Materials, Karlsruhe Inst. for Technol. (KIT), 76021, Karlsruhe, DEU) ,  GRUBER Patric A. (Inst. for Applied Materials, Karlsruhe Inst. for Technol. (KIT), 76021, Karlsruhe, DEU) ,  KOBLER Aaron (Inst. for Nanotechnology, Karlsruhe Inst. for Technol. (KIT), 76021, Karlsruhe, DEU) ,  KOBLER Aaron (Joint Res. Lab. Nanomaterials (KIT and TUD) at Technische Universitaet Darmstadt (TUD), Petersenstr. 32, 64287 ...) ,  KURMANAEVA Lilia (Univ. of California Davis, Dep. of Chemical Engineering & Materials Sci., 95616, Davis, CA, USA) ,  FECHT Hans-Joerg (Inst. of Micro and Nanomaterials, Ulm Univ., 89081, Ulm, DEU)
資料名： Journal of Materials Science  (Journal of Materials Science)
巻： 48  号： 19  ページ： 6841-6847  発行年： 2013年10月 
JST資料番号： B0722A  ISSN： 0022-2461  CODEN： JMTSAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノ結晶性(nc)材料の変形挙動を理解することは,構造材料として応用する上で重要である。その場機械的試験過程で巨視的なnc試料の研究は変形機構を明らかにできる。例えば,走査型電子顕微鏡(SEM)内での圧縮試験時の観察又は透過型電子顕微鏡などのより局所的な方法により得られた結果は,この問題に関する知識を拡げることができる。本研究では不活性ガス凝縮とそれに続く高圧ねじりを組み合わせて製造した平均粒径23nmのnc Pd-10at%Au合金のその場SEM圧縮試験結果を示した。本材料の塑性流動がマクロとメソのいずれのスケールでも不均一であり,圧縮試料の一つの領域とせん断帯内に局在化することを示した。せん断帯の形成は歪軟化を伴った。この様な挙動は転位系可塑ではなく,粒界媒介変形機構の活性化により説明できることを提案した。この結論はその場放射光XRD測定で支持され,同じ材料で同一作製試料の圧縮過程で優先的な粒子配向が起こらないことを明らかにした。Copyright 2013 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *パラジウム合金 ,  金含有合金 ,  圧縮試験 ,  *ナノ結晶 ,  *剪断帯 ,  *その場観察 ,  *圧縮変形 ,  塑性流動 ,  不均一性 ,  歪軟化 ,  結晶粒界 ,  走査電子顕微鏡

分類 (3件)： 機械的性質  (WB02030U) ,  金属組織観察法  (WB01010R) ,  材料試験  (HB02020U)

タイトルに関連する用語 (8件)： SEM ,  圧縮試験 ,  過程 ,  ナノ結晶 ,  Pd ,  Au合金 ,  せん断帯 ,  観察