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J-GLOBAL ID：201302253195474621   整理番号：13A1691573

50WX線源によるミクロX線吸収微細構造測定

Micro x-ray absorption fine structure measurements with a 50W x-ray source

著者 (4件)： HAYAKAWA Shinjiro (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN) ,  MINATO Masaya (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN) ,  YAMAGUCHI Kotaro (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN) ,  KAWASAKO Erika (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
資料名： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
巻： 49th  ページ： 159  発行年： 2013年09月23日 
JST資料番号： S0881A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *XAFS ,  X線源 ,  レンズ ,  分散系 ,  エネルギー分解能 ,  最適化 ,  吸収端 ,  *蛍光X線分析

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (1件)： X線吸収微細構造