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J-GLOBAL ID：201302255312339490   整理番号：11A0030488

Y-Ba-Cu-O薄膜の臨界電流密度の角度依存性

Angular dependence of critical current density in Y-Ba-Cu-O thin films

著者 (7件)： HORIDE T ,  MATSUMOTO K ,  ICHINOSE A ,  YOSHIDA Y ,  HORII S ,  MUKAIDA M ,  OSAMURA K
資料名： IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY
巻： 15  号： 2  ページ： 3734-3737  発行年： 2005年 
JST資料番号： O2729A  ISSN： 1051-8223  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： Ba ,  Cu ,  薄膜 ,  臨界電流密度 ,  角度依存性