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J-GLOBAL ID：201302257322315630   整理番号：13A0596858

ヘリウムイオン顕微鏡 新規メソ多孔性シリカと有機シリカ材料のイメージングのための新規ツール

Helium ion microscopy: a new tool for imaging novel mesoporous silica and organosilica materials

著者 (8件)： TERPSTRA Andrea S. (Univ. British Columbia, BC, CAN) ,  SHOPSOWITZ Kevin E. (Univ. British Columbia, BC, CAN) ,  GREGORY Camille F. (Univ. British Columbia, BC, CAN) ,  MANNING Alan P. (Univ. British Columbia, BC, CAN) ,  MICHAL Carl A. (Univ. British Columbia, BC, CAN) ,  HAMAD Wadood Y. (CelluForce, Inc., Vancouver, CAN) ,  YANG Jijin (Carl Zeiss Microscopy, LLC, Thornwood, USA) ,  MACLACHLAN Mark J. (Univ. British Columbia, BC, CAN)
資料名： Chemical Communications  (Chemical Communications)
巻： 49  号： 16  ページ： 1645-1647  発行年： 2013年02月25日 
JST資料番号： D0376B  ISSN： 1359-7345  CODEN： CHCOFS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ヘリウムイオン顕微鏡はde Broglie波長が短く,高い輝度を持つので,走査電子顕微鏡よりも高い分解能を有する。またより表面感受性である。そこで,ヘリウムイオン顕微鏡を用いて,絶縁性のキラルネマチックメソ多孔性ベンゼンシリカおよびエチレンシリカ膜をスパッタ被覆なしで観察した。その結果,細孔構造,細孔の大きさ,その結合性などの情報がナノメートルスケールで得られ,走査電子顕微鏡観察では得られない情報を得ることができた。

シソーラス用語： 多孔質体 ,  *イオン ,  ヘリウム ,  顕微鏡 ,  *イオン顕微鏡法 ,  *有機ケイ素化合物 ,  de Broglie波 ,  電子顕微鏡観察 ,  *分解能 ,  表面分析 ,  ネマチック相 ,  絶縁材料 ,  *細孔構造 ,  絶縁体
準シソーラス用語： イオン顕微鏡 ,  キラル液晶 ,  メソ多孔質体 ,  走査電子顕微鏡観察 ,  有機シリカ ,  *ヘリウムイオン

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

物質索引 (2件)： テトラメトキシシラン ,  1,4-フェニレンビス(トリエトキシシラン)

タイトルに関連する用語 (7件)： ヘリウム ,  イオン顕微鏡 ,  メソ多孔性 ,  シリカ ,  有機シリカ ,  イメージング ,  ツール