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J-GLOBAL ID：201302257483037002   整理番号：13A0082836

緩速Blochモードに基づく破壊1-D多層スタックセンサ起因高感度に関する研究

Research on High Sensitivity Caused by Broken 1-D Multilayer Stack Sensor Based on the Slow Bloch Mode

著者 (3件)： LIU Yajun (Xi’an JiaoTong Univ., Xi’an, CHN) ,  LIU Rongxia (Xinjiang Univ., Urumqi, CHN) ,  JIA Zhenhong (Xinjiang Univ., Urumqi, CHN)
資料名： IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)
巻： 24  号： 21-24  ページ： 2163-2165  発行年： 2012年11月01日 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *Bloch関数 ,  *多層構造 ,  一次元 ,  多孔質シリコン ,  フォトニックバンドギャップ ,  間隙 ,  高感度 ,  バイオセンサ ,  *光センサ ,  フォトニック結晶
準シソーラス用語： エアギャップ

分類 (2件)： その他の光デバイス  (BD06060O) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (7件)： Blochモード ,  破壊 ,  多層 ,  スタック ,  起因 ,  高感度 ,  研究