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J-GLOBAL ID：201302258057991889   整理番号：13A0909667

大きな全周-面積比率を有する拡張波長InGaAs FPAの雑音

The noise of the extended wavelength InGaAs FPA with large perimeter-area-ratio

著者 (5件)： Huang Songlei (State Key Laboratories of Transducer Technol.,Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai) ,  Zhang Wei (State Key Laboratories of Transducer Technol.,Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai) ,  Huang Zhangcheng (State Key Laboratories of Transducer Technol.,Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai) ,  Xu Zhonghua (State Key Laboratories of Transducer Technol.,Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai) ,  Fang Jiaxiong (State Key Laboratories of Transducer Technol.,Shanghai Inst. of Technical Physics, Chinese Acad. of Sci., Shanghai)
資料名： Hongwai yu Haomibo Xuebao  (Hongwai yu Haomibo Xuebao)
巻： 31  号： 3  ページ： 235-238  発行年： 2012年 
JST資料番号： C0174C  ISSN： 1001-9014  CODEN： HHXUEZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 焦点面アレイセンサ,読取回路およびそれらの結合雑音を含む全雑音を理論的に解析した。拡張波長InGaAs FPA(38×500μm2)において全周-面積比率が大きい場合,温度と積分時間に対する雑音の依存性を測定し,これを解析した。実験結果から,特定の条件では,FPA雑音が積分時間の二乗根に比例しないことを示した。異なる温度でのFPA雑音と暗電流の間の関係を研究した。この結果から,読取回路の入力ステージでは,雑音が主に1/f雑音と電流雑音に起因することが分かった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *光検出器アレイ ,  センサアレイ ,  *1/f雑音 ,  時間依存性 ,  電気回路 ,  データ読取 ,  抵抗器 ,  *ヒ化ガリウムインジウム ,  *赤外検出器 ,  暗電流
準シソーラス用語： アレイセンサ ,  *焦点面アレイ ,  電流雑音 ,  読取回路 ,  面積比率

分類 (1件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 面積比率 ,  拡張 ,  波長 ,  InGaAs ,  雑音