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J-GLOBAL ID：201302259507759759   整理番号：13A0533067

注入剤中の異種粒子を検査するためのオプトエレクトロニクスによる方法

An Opt-electronic Method for Inspecting Foreign Particles in Injections

著者 (6件)： Wang Fuyu (Optical Sci. & Engineering Res. Center,Dep. of Physics,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai) ,  Huang Meizhen (Optical Sci. & Engineering Res. Center,Dep. of Physics,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai) ,  Zeng Tao (Optical Sci. & Engineering Res. Center,Dep. of Physics,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai) ,  Guan Xiangyu (Optical Sci. & Engineering Res. Center,Dep. of Physics,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai) ,  Sun Xiaoxiao (Optical Sci. & Engineering Res. Center,Dep. of Physics,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai) ,  Wang Yang (Optical Sci. & Engineering Res. Center,Dep. of Physics,Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai)
資料名： Guangzi Xuebao  (Guangzi Xuebao)
巻： 41  号： 3  ページ： 375-378  発行年： 2012年 
JST資料番号： W1500A  ISSN： 1004-4213  CODEN： GUXUED  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 注入剤の生産工程では,異種粒子がおそらく注入剤に混入するので,工場から出荷する前に注入剤を検査しなければならない。注入剤で検出される異種粒子について光遮断理論に基づき,オプトエレクトロニクスによる方法を提案し,この検査方法の原理を紹介した。通常のマニュアル検査による方法と比較して,新しい方法が静的オフライン検出の場合に96.30%の満足できる適合率を有することを,予備的実験結果は示した。点検効果を改善するために,二光路の方法も提案し,追跡試験時間があまりに短いか,または試験領域があまりに小さい場合の異種粒子検査ミスを回避した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *オプトエレクトロニクス ,  休止 ,  マニュアル ,  生産工程 ,  比率 ,  注入剤
準シソーラス用語： オフライン ,  実験結果 ,  適合率

分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 注入剤 ,  種粒子 ,  検査 ,  オプトエレクトロニクス