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J-GLOBAL ID：201302260306440019   整理番号：13A0573334

相関関係ベースのマルチ形状の粒度分布計測およびその多孔質シリコンナノ材料のキャラクタリゼーションへの応用

Correlation-based multi-shape granulometry with application in porous silicon nanomaterial characterization

著者 (4件)： KIM Hae Yong (Escola Politecnica, Universidade de Sao Paulo, Av. Prof. Luciano Gualberto, tr. 3, 158, 05508-010, Sao Paulo, BRA) ,  MARUTA Ricardo Hitoshi (Escola Politecnica, Universidade de Sao Paulo, Av. Prof. Luciano Gualberto, tr. 3, 158, 05508-010, Sao Paulo, BRA) ,  HUANCA Danilo Roque (Escola Politecnica, Universidade de Sao Paulo, Av. Prof. Luciano Gualberto, tr. 3, 158, 05508-010, Sao Paulo, BRA) ,  SALCEDO Walter Jaimes (Escola Politecnica, Universidade de Sao Paulo, Av. Prof. Luciano Gualberto, tr. 3, 158, 05508-010, Sao Paulo, BRA)
資料名： Journal of Porous Materials  (Journal of Porous Materials)
巻： 20  号： 2  ページ： 375-385  発行年： 2013年04月 
JST資料番号： W1100A  ISSN： 1380-2224  CODEN： JPMAFX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 画像ベースの粒度分布測定法では粒状材料の像中の対象物のサイズ分布を測定する。通常,数学的モルホロジーかエッジ検出に基づくアルゴリズムがこの作業に使用される。ここでは,いろいろな形およびサイズとカーネルとのクロス相関を使用した完全に新しいアプローチを提案した。ピラミッド構造を使用してマルチスケールの探査を加速した。クロス相関の極大は対象物の中心の第一の候補である。他の対象物とのそれらの相関関係と交差領域に基づいた評価基準を使用して,これらの候補対象物をフィルターにかけた。今回の方法では形,サイズ,および回転角でそれぞれの対象物を空間的に局所化した。これによって(従来の対象物のサイズ分布の他に)例えば対象物の形と空間の分布のような多くの種類の統計が測定できた。実験結果によると新しいアルゴリズムは雑音に非常に強く,非常に微かな,ノイズの多いで対象物でさえも検出できた。新しいアルゴリズムを使用して多孔質シリコン層の走査電子顕微鏡(SEM)像の定量的な構造特性を抽出した。新しいアルゴリズムは細孔のサイズ,形,および空間分布を計算する。これらの定量的な結果を製作過程に関連させ,四角形の多孔質シリコンの生成機構を議論した。新しいアルゴリズムはSEM像の加工の高い信頼性を持つツールである。Copyright 2012 Springer Science+Business Media, LLC Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *多孔質シリコン ,  *粒度分布 ,  *計測 ,  *形態 ,  *相関 ,  *ナノ構造 ,  *材料 ,  数学的変換 ,  エッジ検出 ,  アルゴリズム ,  回転角 ,  粒径 ,  粉粒体 ,  細孔径 ,  細孔構造 ,  空間分布 ,  *ナノ材料
準シソーラス用語： 数学的モルフォロジー

分類 (1件)： 粉体工学  (XD03010M)

タイトルに関連する用語 (8件)： 相関関係 ,  マルチ ,  粒度分布 ,  計測 ,  多孔質シリコン ,  ナノ材料 ,  キャラクタリゼーション ,  応用