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J-GLOBAL ID：201302260764254720   整理番号：13A1602501

ガスパフZピンチ中の微粒子の測定のための真空アークに基づいたパルスX線源の開発

Development of Pulsed X-Ray Source Based on Vacuum-Arc for the Measurement of Fine Particles in Gas-Puff Z Pinch

著者 (3件)： MIYAZAKI Takanori (Nihon Univ., Tokyo, JPN) ,  NISHIO Mineyuki (Nihon Univ., Tokyo, JPN) ,  TAKASUGI Keiichi (Nihon Univ., Tokyo, JPN)
資料名： Research Report. NIFS-PROC Series  (Research Report. NIFS-PROC Series)
号： 93  ページ： 33-37  発行年： 2013年08月26日 
JST資料番号： L0798A  ISSN： 0915-6348  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *Zピンチ装置 ,  *プラズマ診断 ,  *微粒子 ,  シャドウグラフ ,  *X線源 ,  真空アーク ,  プラズマ入射
準シソーラス用語： X線シャドウグラフ ,  ガスパフ ,  *パルスX線源 ,  金属微粒子

分類 (2件)： プラズマ診断  (BJ02090L) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (7件)： ガスパフ ,  Zピンチ ,  微粒子 ,  真空アーク ,  パルス ,  X線源 ,  開発