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J-GLOBAL ID：201302264954750428   整理番号：13A1517648

IEEE1149.7に基づくCJTAG検査法の技術の研究

Research of the technology of CJTAG test method based on IEEE1149.7

著者 (3件)： Chen Shouhong (School of Electronic Engineering and Automation,Guilin Univ. of Electronic Technol., Guilin) ,  Yan Xuelong (School of Electronic Engineering and Automation,Guilin Univ. of Electronic Technol., Guilin) ,  Huang Xin (School of Electronic Engineering and Automation,Guilin Univ. of Electronic Technol., Guilin)
資料名： Dianzi Jishu Yingyong  (Dianzi Jishu Yingyong)
巻： 39  号： 1  ページ： 79-82  発行年： 2013年 
JST資料番号： C2505A  ISSN： 0258-7998  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： IEEE1149.7標準の研究するに基づき,CJTAG試験制御装置を,チップ試験の問題を解決するように設計した。この制御装置は,IEEE1149.7:クラスT0,T1,T3,およびT4の試験機能を主として実現した。シミュレーション結果は,この制御装置によって発生する試験信号が,IEEE1149.7の要求条件を満たすことができ,用途の見通しが良い状態で適切な試験験関数を達成できることを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *IEEE ,  シミュレーション ,  制御装置 ,  試験信号 ,  試験装置
準シソーラス用語： 試験機

分類 (1件)： 計算機網  (JC03000K)

タイトルに関連する用語 (2件)： 検査 ,  研究