Technical Univ. Denmark, Kgs. Lyngby, DNK について
KUEHLE A について
Image Metrology A/S, Horsholm, DNK について
DE CHIFFRE L について
Technical Univ. Denmark, Kgs. Lyngby, DNK について
Measurement Science and Technology について
表面構造 について
キャラクタリゼーション について
パターン認識 について
フィルタリング について
エンベロープ について
特徴抽出 について
方法論 について
Gaussフィルタ について
表面テクスチャー について
特性評価 について
特徴認識 について
決定論的方法 について
長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について
谷 について
テクスチャ について
評価 について
手法 について