文献

J-GLOBAL ID：201302265462601555   整理番号：13A0958624

汚染した磁器絶縁体とガラス絶縁体のACフラッシュオーバ電圧に対する超音波霧の影響

Effect of Ultrasonic Fog on AC Flashover Voltage of Polluted Porcelain and Glass Insulators

著者 (6件)： JIANG Xingliang (Chongqing Univ., Chongqing, CHN) ,  DONG Bingbing (Chongqing Univ., Chongqing, CHN) ,  HU Qin (Chongqing Univ., Chongqing, CHN) ,  YIN Fanghui (Chongqing Univ., Chongqing, CHN) ,  XIANG Ze (Chongqing Univ., Chongqing, CHN) ,  SHU Lichun (Chongqing Univ., Chongqing, CHN)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 20  号： 2  ページ： 429-434  発行年： 2013年04月 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 汚染した絶縁体では,霧のような悪い天候条件がある場合,通常の動作電圧で電気絶縁性が大幅に低下し,汚染フラッシュオーバが生じる。本稿では,人工的な霧試験における汚染した磁器絶縁体とガラス絶縁体のACフラッシュオーバに対する超音波噴霧の影響を調べた。その結果,フラッシュオーバ電圧と塩分付着密度(SDD)の関係を負性指数関数として表すことができることが分かった。しかし,同じ種類の絶縁体に対する各種汚染度でシミュレーションしたAC汚染フラッシュオーバ電圧である,あてはめ式は各種伝導度の使用した水で矛盾がない。さらも,使用した水のフラッシュオーバ電圧と伝導率の関係はまた負性指数関数として表すことができる。

シソーラス用語： *フラッシュオーバ ,  *絶縁材料 ,  汚染物質 ,  ガラス ,  *噴霧 ,  電気絶縁 ,  指数関数 ,  電気伝導率 ,  付着物 ,  *絶縁体
準シソーラス用語： *超音波噴霧 ,  電気絶縁性 ,  等価塩分付着密度

分類 (1件)： 送電  (NB05030G)

タイトルに関連する用語 (8件)： 汚染 ,  磁器 ,  絶縁体 ,  ガラス ,  Ac ,  フラッシュオーバ ,  超音波 ,  霧