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J-GLOBAL ID：201302265491573889   整理番号：13A1186344

潜在的故障を持つシステム信頼性成長のためのマルチフェーズ意思決定モデル

A Multiphase Decision Model for System Reliability Growth With Latent Failures

著者 (3件)： JIN Tongdan (Texas State Univ.-San Marcos, TX, USA) ,  YU Ying (Shanghai Univ., Shanghai, CHN) ,  HUANG Hong-Zhong (Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Chengdu, CHN)
資料名： IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics: Systems  (IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics: Systems)
巻： 43  号： 4  ページ： 958-966  発行年： 2013年07月 
JST資料番号： C0425D  ISSN： 2168-2216  CODEN： ITSMFE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 製品開発サイクルの短縮に従って,信頼性成長試験が困難になって来ているため,潜在的故障が発生し易くそのため信頼性成長計画の重要性が高まっている。これに対し本研究では,潜在的故障を持つシステム信頼性成長のためのマルチフェーズ意思決定モデルの提案を行った。マルチフェーズ信頼性成長の概念について議論を行い,潜在的故障の予測手法を提示した。その中で,外面的故障モードの予測,潜在的故障モードの予測について論じた。次に修正行動(CA)の有効性関数として,CAリソースの量と特別な故障モードの故障低減率を結び付けることを目的としたものを提示し,その議論を行った。さらに,CAを考慮に入れた信頼性予測,最適化手法,最適化アルゴリズム,についての議論を行った。ここでは,半導体製造プロセスのバックエンドでのウェハ検査で広く用いられている複雑な電気機械システムであるATEの事例研究を行い,データ解析,多重フェーズRGP(信頼性成長プランニング)の実装などを行った。RGPの性能評価結果と応用可能性を示した。

シソーラス用語： *故障診断 ,  信頼性 ,  *意思決定 ,  予測技法 ,  故障モード ,  *半導体プロセス ,  最適化手法 ,  実装設計 ,  意思決定支援システム ,  故障率 ,  予測 ,  計算機アルゴリズム
準シソーラス用語： 修正行動 ,  信頼性成長モデル ,  信頼性予測

分類 (3件)： 信頼性  (KB04040H) ,  人工知能  (JE08000Z) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 故障 ,  信頼性成長 ,  マルチフェーズ ,  意思決定モデル