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J-GLOBAL ID：201302265570434045   整理番号：13A1204102

白色エッチング割れの先進キャラクタリゼーションのための補完技術の適用

Application of Complementary Techniques for Advanced Characterization of White Etching Cracks

著者 (5件)： WEST O.H.E. (Technical Univ. Denmark, Kgs. Lyngby, DNK) ,  DIEDERICHS A.M. (RWTH Aachen Univ., Aachen, DEU) ,  ALIMADADI H. (Technical Univ. Denmark, Kgs. Lyngby, DNK) ,  DAHL K.V. (Added Values P/S, Fredericia, DNK) ,  SOMERS A.J. (Technical Univ. Denmark, Kgs. Lyngby, DNK)
資料名： Practical Metallography  (Practical Metallography)
巻： 50  号： 6  ページ： 410-431  発行年： 2013年 
JST資料番号： B0731A  ISSN： 0032-678X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 風力発電タービンの軸受のような大きな負荷を受ける部位において,白色エッチング割れが発生する。このような破損をキャラクタリゼーションするためには,通常,光学(OM)および電子顕微鏡(SEMおよびTEM)が用いられるが,本稿ではさらなる理解のための補完技術として電子後方散乱回折(EBSD)およびイオンチャネリングコントラスト画像化(ICCI)技術の適用について記した。供試材は破損したデンマークの風力発電で用いられた軸受から切り出した。評価用サンプルの調製,EBSDおよびICCIについて述べた後,反射光学顕微鏡,透過型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡観察,EBSDおよびICCI測定の結果を記した。この総括として,OMとSEM・TEMで得られる情報の間にはギャップがあるが,EBSDおよびICCIはそれらを補完することを示唆した。

シソーラス用語： *軸受 ,  *損傷 ,  *キャラクタリゼーション ,  光学顕微鏡 ,  電子顕微鏡 ,  電子回折 ,  イオンチャネリング
準シソーラス用語： 電子後方散乱回折

分類 (2件)： 金属組織観察法  (WB01010R) ,  電子回折法  (BK01030T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 白色 ,  エッチング ,  キャラクタリゼーション ,  補完