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J-GLOBAL ID：201302265672131446   整理番号：13A1091977

グラフェン単空格子点の構造再構成

Structural Reconstruction of the Graphene Monovacancy

著者 (8件)： ROBERTSON Alex W. (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  MONTANARI Barbara (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  HE Kuang (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  ALLEN Christopher S. (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  WU Yimin A. (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  HARRISON Nicholas M. (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  KIRKLAND Angus I. (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  WARNER Jamie H. (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名： ACS Nano  (ACS Nano)
巻： 7  号： 5  ページ： 4495-4502  発行年： 2013年05月 
JST資料番号： W2326A  ISSN： 1936-0851  CODEN： ANCAC3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 収差相関透過型電子顕微鏡(AC-TEM)を用いて,グラフェン中の単空格子点(MV)の二種類の明確な配位を80kVで観測した。Jahn-Teller再構成を示す,予想された低エネルギー非対称MVを観測したが,その他に対称MVの事実を撮像した。幾何学的位相解析を用いて,これらの二種類の欠陥配位を囲む格子の歪を定量的に決定し,Jahn-Teller再構成が対称MVの場合に比べて有意に余分の歪を発生することを示した。二種類のナノ空格子点画像は低エネルギーの再構成MV及び準安定構造と良く一致することを,密度汎関数理論計算により実証した。

シソーラス用語： *空格子点 ,  *炭素材 ,  *再構成 ,  *電子顕微鏡観察 ,  Jahn-Teller効果 ,  格子歪 ,  非対称性 ,  対称性 ,  密度汎関数法 ,  *グラフェン
準シソーラス用語： *構造再構成 ,  準安定性

分類 (1件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (3件)： グラフェン ,  空格子点 ,  再構成