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J-GLOBAL ID：201302266195442295   整理番号：13A0154989

アクティブサーモグラフィーからのPCA処理を用いた欠陥深さ推定のためのニューラルアルゴリズムの精度の解析

Analysis of the accuracy of a neural algorithm for defect depth estimation using PCA processing from active thermography data

著者 (1件)： DUDZIK S. (Czestochowa Univ. of Technol., Dep. of Electrical Engineering, 17 Armii Krajowej Ave., 42-200 Czestochowa, POL)
資料名： Infrared Physics & Technology  (Infrared Physics & Technology)
巻： 56  ページ： 1-7  発行年： 2013年01月 
JST資料番号： H0184A  ISSN： 1350-4495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿では,アクティブサーモグラフィーを用いて欠陥深さを推定するニューラルアルゴリズムを提出した。このアルゴリズムのシミュレーションを,測定試料上の熱伝達過程の異なる相を代表する3つのデータセットについて行った。測定試料表面の放射率誤差の深さ推定検出精度に対する影響を論じた。低温度伝導率の材料からなる測定試料について実験を行った。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *サーモグラフィー ,  *深さ分析 ,  放射率 ,  ニューラルネットワーク ,  熱伝達 ,  温度伝導率 ,  主成分分析 ,  *欠陥 ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： 検出精度 ,  測定試料

分類 (2件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： アクティブサーモグラフィー ,  PCA ,  欠陥 ,  推定 ,  解析