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J-GLOBAL ID：201302266850328530   整理番号：13A0032583

原子間力顕微鏡法を利用したビーム偏向による金ナノワイヤの特性決定

CHARACTERIZATION OF GOLD NANOWIRE THROUGH BEAM DEFLECTION USING ATOMIC FORCE MICROSCOPY
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著者 (7件)：
PHAMDUY Paul

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(Univ. Massachusetts Lowell, MA)

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MCLAUGHLIN Adam

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(Univ. Massachusetts Lowell, MA)

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GAO Fan

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(Univ. Massachusetts Lowell, MA)

Univ. Massachusetts Lowell, MA について

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KIM Byungki

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(Univ. Massachusetts Lowell, MA)

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KIM Byungki

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(NSF Center for High-Rate Nanomanufacturing, MA)

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GU Zhiyong

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(Univ. Massachusetts Lowell, MA)

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GU Zhiyong

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(NSF Center for High-Rate Nanomanufacturing, MA)

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資料名：
Proceedings of the ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition  (Proceedings of the ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition)

Proceedings of the ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition について


巻： 2011  号： Vol.11  ページ： 25-26  発行年： 2012年 
JST資料番号： W2290A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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原子間力顕微鏡法

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ビーム偏向

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金ナノワイヤ

金ナノワイヤ について

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特性決定

特性決定 について


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