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J-GLOBAL ID:201302266890599570   整理番号:13A0975275

SiCN/Si(111)基板上の多重量子井戸構造を持つInxGa1-xN/GaN太陽電池の温度

Temperature of In x Ga1-x N/GaN solar cells with a multiple-quantum-well structure on SiCN/Si(111) substrates
著者 (1件):
資料名:
巻: 114  ページ: 141-146  発行年: 2013年07月 
JST資料番号: D0513C  ISSN: 0927-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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各動作温度でのSiCN/Si(111)基板上のInxGa1-xN多重量子井戸(MQW)構造を持つInxGa1-xN/GaNベース太陽電池のキャラクタリゼーションを報告した。低い暗電流密度(Jd),高い開回路電圧(Voc),および高い短絡電流密度(Jsc)を持つ太陽電池動作を実証した。動作温度の上昇はJdとJscの増加を生じるが,Voc,曲線因子(FF),光電池効率(η)は減少する。様々なレベルのインジウム含有量の素子構造をエアマス1.5グローバル太陽スペクトルの下で研究した。提案構造は2.01~4.27μA/cm2の低Jd,2.34~2.94Vの高Voc,2.71~2.82mA/cm2の高Jsc,64.40~75.01%の高FF,および4.25~5.99%の高ηを持つ太陽電池の製作に用いることができる。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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太陽電池  ,  半導体薄膜 
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