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J-GLOBAL ID：201302267702009627   整理番号：13A0936009

照射した固体の欠陥拡散長のパルスイオンビーム測定

Pulsed ion beam measurement of defect diffusion lengths in irradiated solids

著者 (5件)： CHARNVANICHBORIKARN S (Lawrence Livermore National Lab., CA, USA) ,  MYERS M T (Lawrence Livermore National Lab., CA, USA) ,  MYERS M T (Texas A&M Univ., TX, USA) ,  SHAO L (Texas A&M Univ., TX, USA) ,  KUCHEYEV S O (Lawrence Livermore National Lab., CA, USA)
資料名： Journal of Physics. Condensed Matter  (Journal of Physics. Condensed Matter)
巻： 25  号： 16  ページ： 162203,1-4  発行年： 2013年04月24日 
JST資料番号： B0914B  ISSN： 0953-8984  CODEN： JCOMEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： ケイ素 ,  *イオン照射 ,  *照射損傷 ,  Rutherford後方散乱 ,  *拡散距離 ,  浮遊融解 ,  熱化
準シソーラス用語： イオンビーム分析 ,  拡散長

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 固体 ,  欠陥 ,  拡散長 ,  パルスイオンビーム