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J-GLOBAL ID:201302269482470258   整理番号:13A1557021

3D構造決定と表面微調整のための偏光依存性全反射蛍光X線吸収微細構造

Polarization-Dependent Total-Reflection Fluorescence X-ray Absorption Fine Structure for 3D Structural Determination and Surface Fine Tuning
著者 (5件):
資料名:
巻: 56  号: 15-17  ページ: 1477-1487  発行年: 2013年11月 
JST資料番号: W1435A  ISSN: 1022-5528  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本レビューは,単結晶酸化物表面と偏光依存性全反射X線吸収微細構造(PTRF-XAFS)法を使用した酸化物-担持金属種の3次元構造分析と金属-担体相互作用の原点を報告した。PTRF-XAFSは金属種が酸化物表面の酸素アニオンと強く相互作用して,表面の事前改良が容易に凝集するCuおよびAuの表面単金属種を安定化して,調整した分子構造および配向を有する微調整した表面金属-有機種を作製する有望な方法であることを明らかにした。Copyright 2013 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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触媒の性質一般 

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