文献

J-GLOBAL ID：201302269868759066   整理番号：13A1887341

Na及びK長石中のIR有感トラップの深さについて

On the trap depth of the IR-sensitive trap in Na- and K-feldspar

著者 (8件)： KARS Romee H. (Netherlands Centre for Luminescence Dating, Delft Univ. of Technol., Mekelweg 15, 2629 JB Delft, NLD) ,  POOLTON Nigel R.J. (School of Chemical Engineering and Advanced Materials, Newcastle Univ., Newcastle NE1 7RU, GBR) ,  POOLTON Nigel R.J. (European XFEL GmbH, Hamburg, DEU) ,  JAIN Mayank (Centre for Nuclear Technologies, Technical Univ. of Denmark, DTU Nutech, Riso Campus, DK-4000 Roskilde, DNK) ,  ANKJAERGAARD Christina (Netherlands Centre for Luminescence Dating, Delft Univ. of Technol., Mekelweg 15, 2629 JB Delft, NLD) ,  DORENBOS Pieter (Fac. of Applied Sci., Delft Univ. of Technol., NLD) ,  WALLINGA Jakob (Netherlands Centre for Luminescence Dating, Delft Univ. of Technol., Mekelweg 15, 2629 JB Delft, NLD) ,  WALLINGA Jakob (Soil Geography and Landscape Group, Wageningen Univ., NLD)
資料名： Radiation Measurements  (Radiation Measurements)
巻： 59  ページ： 103-113  発行年： 2013年12月 
JST資料番号： H0649A  ISSN： 1350-4487  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 長石は地質年代測定に用いられる天然の線量計である。本研究では,ルミネセンス年代測定に用いられる電子トラップの光学的深さを調べた。Na及びK長石の一連の光刺激ルミネセンス(OSL)実験を低温(10K)及び室温で行った。トラップの深さはNa長石に対して約2.1eV,K長石に対して約2.5eVと暫定的に推定した。IRSL後の高速燐光はIRトラップの励起状態付近のバンド尾部状態からのトンネリングの結果であると思われる。OSL後の燐光減衰は一桁遅い。OSL後の燐光信号は単一機構で生じると示唆した。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *長石 ,  *光ルミネセンス ,  捕獲中心 ,  励起状態 ,  バンド構造 ,  年代測定 ,  ルミネセンス分析
準シソーラス用語： ルミネッセンス年代測定 ,  光トラップ ,  *光刺激ルミネセンス

分類 (1件)： 年代測定  (DD01050W)

タイトルに関連する用語 (4件)： Na ,  長石 ,  Ir ,  トラップ