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J-GLOBAL ID：201302269960755719   整理番号：13A1149770

Fourier変換赤外分光法と顕微Raman研究からのナノ結晶β-SiCの構造証拠

Structural Evidence of Nanocrystalline β-SiC from Fourier Transform Infrared Spectroscopy and Micro-Raman Studies

著者 (2件)： MOHAPATRA Sankar (Paradeep Coll., Odisha, IND) ,  MOHAPATRA Sankar (CSIR, Odisha, IND)
資料名： Nanoscience and Nanotechnology Letters  (Nanoscience and Nanotechnology Letters)
巻： 5  号： 5  ページ： 587-592  発行年： 2013年05月 
JST資料番号： W2373A  ISSN： 1941-4900  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 直流拡張アーク熱プラズマインフライト反応器を用いて,安価な農業廃棄物である竹の葉からSiC粉末を作製した。合成したナノ生成物はナノβ-SiC,自由炭素,非晶質シリカから構成された。熱処理すると生成物から炭素が消えた。シリカと金属酸化物の不純物はHFとHClによる溶脱により除去した。ナノ生成物のβ相をX線回折パターンから明らかにし,顕微RamanとFTIR研究により裏付けた。ナノ生成物はナノ粒子とナノロッド(直径20nm,長さ500nm)の混合物であった。

シソーラス用語： 熱プラズマ ,  竹類 ,  顕微Raman分光法 ,  *FTIR分光法 ,  ナノ結晶 ,  *炭化ケイ素 ,  半導体材料 ,  熱処理 ,  電子顕微鏡観察 ,  ナノロッド ,  ナノ粒子 ,  化合物半導体 ,  *結晶成長 ,  赤外吸収スペクトル
準シソーラス用語： FTIRスペクトル ,  X線回折パターン

分類 (1件)： 半導体の結晶成長  (BK13040X)

タイトルに関連する用語 (5件)： Fourier変換赤外分光法 ,  研究 ,  ナノ結晶 ,  SiC ,  証拠