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J-GLOBAL ID:201302270909775606   整理番号:13A0758441

多孔質GaN構造中の圧縮歪の熱アニーリングによって誘起される緩和

Thermal Annealing Induced Relaxation of Compressive Strain in Porous GaN Structures
著者 (4件):
資料名:
巻: 2012  ページ: 921-922  発行年: 2012年 
JST資料番号: T0931A  ISSN: 1092-8081  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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故意にはドープしていないn型GaN膜(厚さ30μm)をサファイア上に成長させ,次にHF:CH3OH:H2O2溶液中で紫外線を照射してエッチし,次に400,600および800°Cで窒素中でアニールした。これらの試料のRamanスペクトルを測定したところ,スペクトルピークはアニールによって短波長側にシフトすることが分かった。このことは圧縮歪が緩和していることを示している。
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分類 (2件):
分類
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半導体の赤外スペクトル及びRaman散乱・Ramanスペクトル  ,  固体の機械的性質一般 
物質索引 (1件):
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