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J-GLOBAL ID:201302271723813237   整理番号:13A1250469

ミクロ及びナノ機械での原子間力顕微鏡の応用の研究進展

Research Progress on Applications of Atomic Force Microscopy in Micro-and Nano-mechanics
著者 (7件):
資料名:
巻: 26  号: 7A  ページ: 118-124  発行年: 2012年 
JST資料番号: C2126A  ISSN: 1005-023X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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原子間力顕微鏡(AFM)は,ナノサイエンス研究用の,強力な道具である。AFMの原理に基づき,プローブとサンプルの間の,力の計算プロセスを分析し,キャンチレバーのばね定数を決定する為の,幾つかの方法を導入した。更に,ナノスケール材料,生物物理学,及び,電子装置用のAFM応用の,最近の進展のレビューを与えた。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST
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分類 (1件):
分類
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顕微鏡法 
タイトルに関連する用語 (5件):
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