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J-GLOBAL ID：201302271845684241   整理番号：13A0549856

熱処理後の高配向熱分解黒鉛(HOPG)の中に注入したヨウ素の挙動

Behavior of iodine implanted in highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) after heat treatment

著者 (9件)： MUKHAWANA Mxolisi B. (Physics Dep., Univ. of Pretoria, South Africa) ,  THERON Christiaan C. (Physics Dep., Univ. of Pretoria, South Africa) ,  MALHERBE Johan B. (Physics Dep., Univ. of Pretoria, South Africa) ,  VAN DER BERG Nic G. (Physics Dep., Univ. of Pretoria, South Africa) ,  BOTHA Andre J. (Microscopy and Microanalysis Lab., Physics Dep., Univ. of Pretoria, South Africa) ,  GROTE Wiebke (X-ray Diffraction Lab., Dep. of Geology, Univ. of Pretoria, South Africa) ,  WENDLER Elke (Inst. fuer Festkoeperphysik, Friedrich-Schiller-Universitaet Jena, Jena, DEU) ,  WESCH Werner (Inst. fuer Festkoeperphysik, Friedrich-Schiller-Universitaet Jena, Jena, DEU) ,  CHAKRABORTY Purushottam (Surface Physics Div., Saha Inst. of Nuclear Physics, Kolkata, IND)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 273  ページ： 65-67  発行年： 2012年02月15日 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 高配向性熱分解グラファイト ,  *イオン注入 ,  *ヨウ素 ,  スペクトロスコピー ,  Rutherford後方散乱 ,  走査電子顕微鏡 ,  X線回折 ,  エネルギー ,  照射線量 ,  焼なまし ,  温度 ,  放出

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 熱処理 ,  高配向熱分解黒鉛 ,  HOPG ,  注入 ,  ヨウ素 ,  挙動