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J-GLOBAL ID:201302272074980567   整理番号:13A0787268

エラートレラントアプリケーションのための多重縮退故障を用いた論理簡単化アルゴリズム

A Logic Simplification Algorithm with Multiple Stuck-at Faults for Error Tolerant Application
著者 (5件):
資料名:
巻: 112  号: 451(VLD2012 136-162)  ページ: 1-6  発行年: 2013年02月25日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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LSIシステムが多少の誤り出力や性能低下を引き起こしても,システムの用途がこれらを許容できるとき,このような用途をエラートレラントアプリケーションと呼ぶ。本論文では,エラートレラントアプリケーションのための論理LSIの論理簡単化に着目する。文献[10]では,故障の許容性を調べることで除去可能な部分回路を判別する論理簡単化アルゴリズムが提案されているが,このアルゴリズムは故障の許容性判定に多くの処理時間を必要としている。この問題に対して,(1)多重縮退故障の許容性に関する性質を利用して許容になる可能性の高い故障のみを許容性判定の対象とすることと,(2)許容性判定処理と計算量の小さい冗長故障判定処理を併用することで,故障の許容性判定を効率的に行うアルゴリズムを提案する。ベンチマーク回路に対する実験により,従来法に比べて,提案法は処理時間を小さいだけでなく簡単化能力も高いことを示す。(著者抄録)
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分類 (1件):
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半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (5件):
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