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J-GLOBAL ID：201302272561693565   整理番号：13A1249224

進化可能な組合せ回路の反静電放電干渉特性

Anti-electrostatic Discharge Interference Characteristics of Evolvable Combinational Circuits

著者 (5件)： Man Menghua (Res. Inst. of Electrostatic and Electromagnetive Protection,Mechanical Engineering Coll., Shijiazhuang) ,  Liu Shanghe (Res. Inst. of Electrostatic and Electromagnetive Protection,Mechanical Engineering Coll., Shijiazhuang) ,  Chang Xiaolong (Res. Inst. of Electrostatic and Electromagnetive Protection,Mechanical Engineering Coll., Shijiazhuang) ,  Ju Zhengquan (Res. Inst. of Electrostatic and Electromagnetive Protection,Mechanical Engineering Coll., Shijiazhuang) ,  Chu Jie (Res. Inst. of Electrostatic and Electromagnetive Protection,Mechanical Engineering Coll., Shijiazhuang)
資料名： Gaodianya Jishu  (Gaodianya Jishu)
巻： 38  号： 9  ページ： 2322-2328  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2121A  ISSN： 1003-6520  CODEN： GAJIE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 進化可能組合せ回路の反静電放電(ESD)干渉特性を調査するため,著者達は仮想再構成可能回路技術をデカルトの遺伝的プログラミング思想と結合したデジタル回路の一般的進化可能モデルを提案した。ESD電磁パルス効果実験をIEC61000-4-2に基づいて実施した。それによって,異なる干渉パターンのメカニズムを,解析し,単一極のアップセットと過渡論理的崩壊の2種類に分割した。故障の数が増えた場合,進化実験も実施し,ESD干渉環境について故障注入方法を用いてシミュレーションした。実験結果により,進化可能なデジタル回路が低レベルの故障ノードのパーセンテージ範囲に免疫があることを示した。そして,回路はより高い故障ノードの頻繁なESD干渉の下でさえまだおよそ0.9のパーセンテージ適合性を維持することができた。進化可能デジタル回路の反干渉能力が非常に信頼できると結論した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： 逆方向 ,  *放電 ,  *静電気 ,  干渉 ,  特性 ,  *生物進化 ,  可能性 ,  組合せ ,  回路 ,  直角座標 ,  *遺伝的プログラミング ,  ディジタル回路 ,  電磁パルス ,  IEC規格 ,  型 ,  機構
準シソーラス用語： デカルト座標 ,  パターン ,  メカニズム ,  干渉パターンメカニズム ,  干渉特性 ,  進化【生物】 ,  進化可能組合せ回路 ,  静電放電 ,  反静電放電 ,  反対向き

分類 (4件)： 放電一般  (BJ03010I) ,  静電気学,静磁気学  (BD01010C) ,  進化論一般  (EC03010Q) ,  マイクロプログラミング  (JD03060B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 進化 ,  組合せ回路 ,  静電放電 ,  干渉