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J-GLOBAL ID：201302274168936955   整理番号：13A1379200

排出されたFCC触媒から得られたゼオライトに富んだ材料によるクロム除去 収着剤構造に及ぼすクロム取込の影響

Chromium removal by zeolite-rich materials obtained from an exhausted FCC catalyst: Influence of chromium incorporation on the sorbent structure

著者 (6件)： GONZALEZ Maximiliano R. (Centro de Investigacion y Desarrollo en Ciencias Aplicadas Dr. J.J. Ronco (CINDECA), (CONICET-CIC-UNLP) 47 No. 257 ...) ,  PEREYRA Andrea M. (Centro de Investigacion y Desarrollo en Ciencias Aplicadas Dr. J.J. Ronco (CINDECA), (CONICET-CIC-UNLP) 47 No. 257 ...) ,  PEREYRA Andrea M. (CITEMA, Universidad Tecnologica Nacional, 60 y 124, (1900) La Plata, ARG) ,  TORRES SANCHEZ Rosa M. (Centro de Tecnologia de Recursos Minerales y Ceramica (CETMIC), Cno. Centenario y 506, (1896) MB Gonnet, ARG) ,  BASALDELLA Elena I. (Centro de Investigacion y Desarrollo en Ciencias Aplicadas Dr. J.J. Ronco (CINDECA), (CONICET-CIC-UNLP) 47 No. 257 ...) ,  BASALDELLA Elena I. (CITEMA, Universidad Tecnologica Nacional, 60 y 124, (1900) La Plata, ARG)
資料名： Journal of Colloid and Interface Science  (Journal of Colloid and Interface Science)
巻： 408  ページ： 21-24  発行年： 2013年10月15日 
JST資料番号： C0279A  ISSN： 0021-9797  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： FCC廃触媒はゼオライト混合物に変えられ,得られた生成物は水溶液中で頻繁にみられるCr(III)種のための捕獲材料として後で使われた。Cr取込によって生じた収着剤構造における結果的に起こりうる変化を,零電荷点(PZC),X線回折(XRD),走査電子顕微鏡(SEM),エネルギー分散X線分析(EDX)および赤外吸収(FTIR)のような種々のキャラクタリゼーション法によって調べた。XRDおよびFTIR分析は,クロム取込が材料のアモルファス化を生じることを示し,PZC測定は荷電クロム種の表面吸着を表さなかった。SEMおよびEDX分析は,クロム収着後最初の微小球触媒形態が持続され,ゼオライト結晶が水熱的に成長する外側の微小球表面上で,クロム種の存在が主に検知されることを明らかにした。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *触媒 ,  *廃水処理 ,  X線回折 ,  走査電子顕微鏡 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  赤外吸収スペクトル ,  陽イオン交換 ,  *化学合成 ,  収着剤 ,  ζ電位
準シソーラス用語： FTIRスペクトル ,  SEM-EDX ,  *クロム除去 ,  *ゼオライト合成 ,  *廃触媒 ,  零電荷点

分類 (2件)： 重金属とその化合物一般  (SB05021R) ,  固-液界面  (CB12050B)

タイトルに関連する用語 (6件)： FCC触媒 ,  ゼオライト ,  クロム除去 ,  収着剤 ,  クロム ,  取込