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J-GLOBAL ID：201302275095070063   整理番号：13A1793936

Xビット分布に基づく試験圧縮指向ドントケア同定法

A Test Compaction Oriented Don’t Care Identification Method Based on X-bit Distribution

著者 (4件)： YAMAZAKI Hiroshi (Graduate School of Industrial Technol., Nihon Univ.) ,  WAKAZONO Motohiro (Graduate School of Industrial Technol., Nihon Univ.) ,  HOSOKAWA Toshinori (Coll. of Industrial Technol., Nihon Univ.) ,  YOSHIMURA Masayoshi (Dep. of Computer Sci. and Communication Engineering, Kyushu Univ.)
資料名： IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E96-D  号： 9  ページ： 1994-2002 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： L1371A  ISSN： 0916-8532  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年,VLSIの密度および複雑性の増大は,試験パターンおよび故障モデルの数における増加に導く。VLSI試験に用いる試験パターンは,高品質および低価格を提供することが要求される。ドントケア(X)同定技術およびX-充填技術は,これらの要求を満足する方法である。しかしながら従来のX同定技術は,Xビットが特に一次入力および疑似一次入力に集中するために,試験圧縮のような特定用途分野に対して効果が小さい。本論文では,試験圧縮に対してドントケア法を提案した。ITC’99およびISCAS’89ベンチマーク回路に対する実験結果により,与えられた試験集合は,提案した方法により効果的に圧縮できることを示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 試験 ,  圧縮 ,  *同定 ,  超LSI ,  *テストパターン ,  回路 ,  品質 ,  モデル ,  改良
準シソーラス用語： x-充填 ,  ベンチマーク回路 ,  故障モデル

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (15件)：

• [1] H. Fujiwara, Logic Testing and Design for Testability, MIT Press, 1985.
• [2] M. Abramovici, M.A. Breuer, and A.D. Friedman, Digital Systems Testing and Testable Design, IEEE Press, 1995.
• [3] J. Ferguson and J. Shen, Extraction and Simulation of Realistic CMOS Faults Using Inductive Fault Analysis, International Test Conference, pp.475-484, 1988.
• [4] M. Renovell, P. Huc, and Y. Bertrand, “The concept of resistance interval: A new parametric model for realistic resistive bridging fault,” 13th IEEE VLSI Test Symposium, pp.184-189, 1995.
• [5] T.M. Storey and W. Maly, CMOS Bridging Fault Detection, International Test Conference, pp.842-851, 1990.

タイトルに関連する用語 (4件)： ビット ,  分布 ,  試験 ,  同定法