ALTERMAN Marina について
Technion-Israel Inst. Technol., Haifa, ISR について
SCHECHNER Yoav Y. について
Technion-Israel Inst. Technol., Haifa, ISR について
PERONA Pietro について
California Inst. Technol., CA について
SHAMIR Joseph について
Technion-Israel Inst. Technol., Haifa, ISR について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
動き検出 について
画像分析 について
確率モデル について
統計量 について
角度 について
スケーリング【計数】 について
追跡 について
コンピュータビジョン について
評価試験 について
パターン分類 について
歪補正 について
画像歪 について
観測統計量 について
視角 について
トラッキング について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について