LEE Joon-Young について
KAIST, Daejeon, KOR について
MATSUSHITA Yasuyuki について
Microsoft Res. Asia, Beijing, CHN について
SHI Boxin について
Univ. Tokyo, Tokyo, JPN について
KWEON In So について
KAIST, Daejeon, KOR について
IKEUCHI Katsushi について
Univ. Tokyo, Tokyo, JPN について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
キャリブレーション について
放射計 について
最小化問題 について
カメラ について
アルゴリズム について
カラー画像 について
色 について
逐次近似 について
異常値 について
照明条件 について
反復法 について
計測機器一般 について
その他の光学的測定法とその装置 について
その他のオペレーションズリサーチの手法 について
図形・画像処理一般 について
最小化 について
放射計 について
キャリブレーション について